Mestrado
em Tecnologia: Gestão, Desenvolvimento
e Formação
Autor: Luís
Ricardo de Aquino Leonel Ferreira
Orientadora:
Profa. Dra. Luciana Reyes Pires Kassab
Banca: Prof.
Dr. Francisco Tadeu Degasperi; Prof. Dr. Pedro Kunihiko Kiyohara
Título:
Análise Computacional de Padrões de Difração
Eletrônica em Fotomicrografias
Resumo
O processamento computacional é atualmente
uma das mais importantes ferramentas para a análise de imagens.
Uma das áreas de interesse para a aplicação
da análise computacional de imagens é a microscopia.
Imagens geradas por microscópios ajudam na tarefa de identificar
elementos presentes em um dado material, bem como caracterizar os
arranjos estruturais. No presente trabalho foi desenvolvido um sistema
computacional de análise de padrões de difração
eletrônica em fotomicrografias de microscopia eletrônica
de transmissão. Em particular, o trabalho visa atender às
necessidades do Laboratório de Vidros e Datação
da Faculdade de Tecnologia de São Paulo, que em parceria
com o Laboratório de Microscopia Eletrônica do Instituto
de Física da Universidade de São Paulo, tem realizado
análises de materiais vítreos contendo nanopartículas
metálicas. O programa de computador desenvolvido se aplica
ao tratamento, coleta de dados e análise das imagens de difração
eletrônica obtidas no microscópio do referido laboratório.
Essas tarefas são suportadas por módulos independentes
do programa, desenvolvidos especificamente para cada tipo de imagem.
Como objeto do estudo, foi escolhida a fotomicrografia de difração
eletrônica de pontos, um tipo de imagem criado como resultado
da microscopia de estruturas monocristalinas. No texto são
descritos os métodos necessários para elaboração
de um módulo para pré-análise dessas fotomicrografias
a fim de indicar regiões relevantes da imagem e de um módulo
para identificação de nanoestruturas pela análise
das regiões selecionadas. Na pré-análise são
empregados métodos de tratamento digital de imagens como
a aplicação de thresholding, para separação
dos pontos relevantes e connected component labeling, para identificação
de agrupamentos de pontos (regiões de interesse). No processamento
são aplicadas as técnicas de análise de fotomicrografias
de difração usadas em microscopia com o objetivo de
identificar o sistema cristalino e a composição das
estruturas representadas nas imagens. As teorias envolvidas nessas
etapas são apresentadas numa primeira parte do trabalho.
Os resultados obtidos com a adoção desses módulos
do programa foram coletados em formulários preenchidos pelos
técnicos em microscopia e são analisados numa última
parte. Deles se conclui que a adoção de um método
computacional contribui para uma relevante redução
do tempo de análise se comparado com o método manual,
que não utiliza o computador para a seleção
de pontos.
Palavras-chave: Análise computacional de imagens,
difração eletrônica, fotomicrografia, nanoestrutura.


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